Toluca, Méx.- La Comisión de Vigilancia del Órgano Superior de Fiscalización de la 60 Legislatura aprobó 34 registros de aspirantes a integrar la terna para designar al titular del Órgano Superior de Fiscalización del Estado de México (OSFEM); las entrevistas serán el 23 y 24 de enero.
La Comisión avaló que los candidatos tengan 15 minutos de entrevista, divididos en 10 para su exposición y cinco para responder preguntas y ofrecer una conclusión. Morena podrá realizar dos preguntas y el PRI, PAN, PRD y los legisladores sin partido una pregunta por grupo parlamentario.
Los candidatos citados el 23 de enero para entrevistas en el Salón Narciso Bassols del Congreso local a partir de las 9:00 horas son: Miroslava Carrillo Martínez, Daniel Rodríguez Perdomo, Ana María Peñaflores RoOK dríguez, Luis Vázquez Pozas, Claudia Romero Landázuri, Alonso Álvarez Alvarado, Dante David Aguilera Morales, Efraín Urbina Monroy, José Antonio Delgado Sánchez, Rafael Funes Díaz, José David Arroyo Estrada, Sergio Torres Valle, Armando Sergio Lara Pérez, Gustavo Antonio Salazar Becerril, Ignacio Gutiérrez Padilla, José Luis García Ajuria y Eva Mariana López Olvera.
Los candidatos citados para el 24 de enero en el recinto y la hora mencionados son José Manuel Gómez García, Román Villanueva Tostado, Luis Alejandro Juárez Valle, Abraham Martínez Alfaro, Alejandro Esquivel Ávila, Jesús Edgar Martínez Gama, Lázaro Millán Vilchis, Irma González Becerra, José Edgar Ángeles Reyes, Marcos Rafael García Pérez, Isaac Carmona García, Jesús Pérez Montoya, Sergio Paul Monroy Vicenteño, Rogelio Santillán Buelna, María de los Ángeles Ramírez Martínez, Ileana Abigail Bustamante Sánchez y Alma Janette Caballero Villegas.
Tanech Sánchez, presidente de la Comisión, dijo que el perfil de todos los candidatos aceptados correspondía con la experiencia solicitada y especificó que se podría ahondar más a detalle en las cualidades de cada uno en las entrevistas. Ofreció que la Secretaría Técnica de la Comisión se acercaría con los legisladores para ofrecer una revisión a detalle de la documentación.
